X-Ray Diffraction, 常缩写为XRD, 是否使用无损检测方法来分析结晶材料的结构.
XRD分析，通过对晶体结构的研究，是一种强有力的手段 非破坏性技术 用于识别存在于材料中的结晶相，从而揭示化学成分信息. 通过将采集到的数据与参考数据库中的数据进行比较，实现相位识别.
x射线衍射对评价矿物很有用, polymers, corrosion products, 未知的物质. 其中最常见的测试是鉴定和定量的结晶相, 结晶度的测定, 并对晶体结构进行分析.
In most cases, 在Element分析的样品采用粉末衍射分析，样品制备为细磨粉末.
进行x射线衍射(XRD)分析
这种测试方法是通过将x射线束指向样品并测量散射强度作为出射方向的函数来完成的. 一旦光束被分离, the scatter, 也叫衍射图样, 指示样品的晶体结构. 然后使用Rietveld细化技术来表征最有可能提供观察到的图案的晶体结构.
用XRD分析残余应力测量(RSM)
二十多年来, Element定期进行保留应力测量，在该领域积累了丰富的经验. Our 残余应力测量 专家们开发了许多创新的程序，包括使用RIGAKU应力分析仪使用x射线衍射测量RSM. 我们可以讨论在您的项目中使用残余应力测量的可能性.
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